Thick800A X荧光测厚仪（国产）是天瑞仪器专门研发用于镀层行业的一款荧光测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手，分析仪器上市企业（股票代码：300165）。

详细资料

国产X荧光测厚仪

 

 

国产X荧光测厚仪THICK800A厂家
产品介绍

 

Thick800A X荧光测厚仪（国产）是天瑞仪器专门研发用于镀层行业的一款荧光测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手，分析仪器上市企业（股票代码：300165）。

 

性能特点

 

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加

良好的射线屏蔽作用

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

测试口高度敏感性传感器保护

 国产X荧光测厚仪THICK800A厂家

技术指标

 

型号：Thick 800A

分析检出限可达2ppm，*薄可测试0.005μm。

分析含量一般为2ppm到99.9%

X荧光测厚仪元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

一次可同时分析*多24个元素，五层镀层。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

长期工作稳定性可达0.1%

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

 

标准配置

 

开放式样品腔。

二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

 

应用领域

 

可以测试，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

X荧光测厚仪（国产）主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀企业、半导体企业、电子连接器、五金工具企业、电子电器企业。

江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产镀层测厚仪，RoHS检测仪，气相色谱质谱联用仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,RoHS分析仪，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF合金分析仪，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。

 

 

 

 

 

江苏天瑞仪器股份有限公司镀层测厚仪展厅