EDX8000L X荧光考古分析仪
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产品名称：EDX8000L X荧光考古分析仪
产品型号：EDX8000L
产品厂商：江苏天瑞仪器股份有限公司
简单介绍
EDX8000L X荧光考古分析仪的详细介绍
仪器介绍
EDX8000L利用历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照古陶瓷数据库便可以达到断代断源的效。同时，为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司根据行业需要制作型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
EDX8000L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到机多用，是古文物检测备的科学检测仪器。历史博物馆、收藏家协会等古文物收藏门都是其用户。
术标
型号：EDX8000L
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
测量镀层：镀层厚度测量*薄至0.01微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：30s—200s
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
输入电压：AC 110V/220V
消耗率：200W
环境温度: 15-26℃
相对湿度: ≤70%
X荧光考古分析仪
标准配置
超薄窗大面积的原装口Fast SDD探测器
数字多道系统
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互的基体效应校正模型。
三重安保护模式
外观尺寸： 800×710×1360 mm
样品腔尺寸：590×550×600mm
重量：280kg
应用域
古陶瓷
古青铜器
古饰
镀层测厚
X荧光考古分析仪
公司介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有知识的科企业，注册资本46176。旗下拥有苏州天瑞环境科有限公司、北京邦鑫伟业术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科有限公司四家资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏测检测术有限公司两家控股子公司。总位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
江苏天瑞仪器股份有限公司
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