下照式X射线荧光镀层测厚仪厂家
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产品名称：下照式X射线荧光镀层测厚仪厂家
产品型号：
产品厂商：江苏天瑞仪器股份有限公司
简单介绍
下照式X射线荧光镀层测厚仪厂家Thick600是天瑞仪器*实惠的镀层测厚仪；仪器采用下照式结构，适合平面样品的检测，配置的软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务可靠及时。
下照式X射线荧光镀层测厚仪厂家的详细介绍
下照式X射线荧光镀层测厚仪厂家
仪器介绍
仪器介绍
Thick600是天瑞仪器*实惠的镀层测厚仪；仪器采用下照式结构，适合平面样品的检测，配置的软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务可靠及时。
镀层厚度测试方法般有以下几种方法：
1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3、库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
下照式X射线荧光镀层测厚仪厂家
测量标准
测量标准
1标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of me
仪器分析原理
Thick600采用的是种XRF光谱分析术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。
样品测试步骤
1） 每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”：
用户使用“Administrator”，密码：skyray
2） 入测试软件后，选择“测试条件”
点击“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）
3） 选择“作曲线”
如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推
4） 放入“Ag片”对仪器行初始化
初始化成后，（峰通道为1105，计数率达到定的数，如300以上）。
5） 待测样品测试
放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始”，输入样品名称后“确定”。
6） 测试成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
注意：测试镀层样品时，须要确定是什么镀层、选择好对应的作曲线测试。
下照式X射线荧光镀层测厚仪厂家
仪器性能特点
1. 长效稳定X铜光管；
2.半导体硅片电制冷探测器，摒弃元素识别能力较弱的计数盒；
3.内置天瑞仪器研发研发的—信噪比增强器（SNE）与MCA多道分析器；
4.内置清晰摄像头，方便用户随时观测样品；
5.脉冲处理器，数据处理快速准确；
6.手动开关样品腔，操作安方便；
7.三重安保护模式；
2.半导体硅片电制冷探测器，摒弃元素识别能力较弱的计数盒；
3.内置天瑞仪器研发研发的—信噪比增强器（SNE）与MCA多道分析器；
4.内置清晰摄像头，方便用户随时观测样品；
5.脉冲处理器，数据处理快速准确；
6.手动开关样品腔，操作安方便；
7.三重安保护模式；
8.整体钢架结构、外型简洁；
9.FP软件，无标准样品时亦可测量。
9.FP软件，无标准样品时亦可测量。
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