X-ray膜厚仪
简单介绍
X-ray膜厚仪Thick800A是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项术,研制出具有知识的,*优的金属电镀层厚度检测仪。
X-ray膜厚仪的详细介绍
X-ray膜厚仪
仪器介绍
仪器介绍
天瑞公司92年开始做X荧光光谱仪,在质量管理方面有善的质量管理体系,在来料、加过程、整机、出货各个环节严格把关,确保产品的性能和质量优。天瑞仪器在检测度、检测能、操作便捷性等方面直保持。
Thick800A是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项术,研制出具有知识的,*优的金属电镀层厚度检测仪。
镀层厚度测试方法般有以下几种方法:
X-ray膜厚仪
测量标准
Thick800A是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项术,研制出具有知识的,*优的金属电镀层厚度检测仪。
镀层厚度测试方法般有以下几种方法:
1、光学显微镜法。适用标准为:GB/T6462-2005
2、X-ray法(X射线法)。适用标准为:GB/T16921-2005
3、库仑法,此法般为仲裁方法。适用标准为:GB/T4955-2005
X-ray膜厚仪
测量标准
1标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of me tallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
X-ray膜厚仪
性能
X-ray膜厚仪
性能
1.可靠性:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析度、重复性与稳定性很。所以,其测量的可靠性更。
2.满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
3.快速:40S就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量度要求。
4.无损:测试前后,样品无何形式的变化。
5.直观:实时谱图,可直观显示产品测试点
6.简易:对人员术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
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