XRF元素分析仪天瑞EDX，EDX2800、EDX1800B
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产品名称：XRF元素分析仪天瑞EDX，EDX2800、EDX1800B
产品型号：EDX
产品厂商：江苏天瑞仪器股份有限公司
简单介绍
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XRF元素分析仪天瑞EDX，EDX2800、EDX1800B的详细介绍
XRF元素分析仪天瑞EDX，EDX2800、EDX1800B
XRF元素分析仪天瑞EDX，EDX2800、EDX1800B产品说明、术参数及配置
XRF元素分析仪天瑞EDX，EDX2800、EDX1800B产品说明、术参数及配置
天瑞X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上能到。采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分析出，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果符合标GB/T 18043-2000要求。
贵重，仪器贵。EDX 3000 PLUS闪耀的亮点在于超度、超分辨率、更清晰的摄像头、键式智能操作，切让贵金属检测如此简单！
性能
超分辨率，：
采用上的SDD硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
超度，性能优：
使用25mm2大面积铍窗探测器，大大提样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器术，提分析速度，总体提系统处理能力，计数率zui大可达8，比Si-PIN 6mm2探头提了5-10倍,度提了2-4倍。
超清晰摄像头，定位：
采用业相机，样品图像更加清晰，轻松实现定位。
小准直器，轻松实现小位测试：
提供多种准直器，直径zui小达0.2mm，可轻松实现小位的测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加准确。
键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的整使用，只需键操作即可智能化自动匹配曲线，操作步到位。
XRF元素分析仪天瑞EDX，EDX2800、EDX1800B术参数
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达ppm
分析含量般为ppm到99.99％
意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：139±5eV
仪器配置
移动样品平台
SDD探测器
数字多道分析系统
低压电源
大率X光管
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
质量：45Kg
应用域
，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测
性能
超分辨率，：
采用上的SDD硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
超度，性能优：
使用25mm2大面积铍窗探测器，大大提样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器术，提分析速度，总体提系统处理能力，计数率zui大可达8，比Si-PIN 6mm2探头提了5-10倍,度提了2-4倍。
超清晰摄像头，定位：
采用业相机，样品图像更加清晰，轻松实现定位。
小准直器，轻松实现小位测试：
提供多种准直器，直径zui小达0.2mm，可轻松实现小位的测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加准确。
键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的整使用，只需键操作即可智能化自动匹配曲线，操作步到位。
贵重，仪器贵。EDX 3000 PLUS闪耀的亮点在于超度、超分辨率、更清晰的摄像头、键式智能操作，切让贵金属检测如此简单！
性能
超分辨率，：
采用上的SDD硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
超度，性能优：
使用25mm2大面积铍窗探测器，大大提样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器术，提分析速度，总体提系统处理能力，计数率zui大可达8，比Si-PIN 6mm2探头提了5-10倍,度提了2-4倍。
超清晰摄像头，定位：
采用业相机，样品图像更加清晰，轻松实现定位。
小准直器，轻松实现小位测试：
提供多种准直器，直径zui小达0.2mm，可轻松实现小位的测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加准确。
键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的整使用，只需键操作即可智能化自动匹配曲线，操作步到位。
XRF元素分析仪天瑞EDX，EDX2800、EDX1800B术参数
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达ppm
分析含量般为ppm到99.99％
意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：139±5eV
仪器配置
移动样品平台
SDD探测器
数字多道分析系统
低压电源
大率X光管
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
质量：45Kg
应用域
，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测
性能
超分辨率，：
采用上的SDD硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
超度，性能优：
使用25mm2大面积铍窗探测器，大大提样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器术，提分析速度，总体提系统处理能力，计数率zui大可达8，比Si-PIN 6mm2探头提了5-10倍,度提了2-4倍。
超清晰摄像头，定位：
采用业相机，样品图像更加清晰，轻松实现定位。
小准直器，轻松实现小位测试：
提供多种准直器，直径zui小达0.2mm，可轻松实现小位的测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加准确。
键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的整使用，只需键操作即可智能化自动匹配曲线，操作步到位。
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