电镀层测厚仪的三种测量原理
电镀层测厚仪是一种用于测量电镀层以及其他类型覆盖层(如涂层、敷层、贴层和化学生成膜)厚度的仪器。
电镀层测厚仪的工作原理根据其测量方式的不同而有所差异，主要包括以下几种：
1、磁性法：
利用磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小来测量覆层的厚度。这种吸力与处于两者之间的距离成一定比例关系，该距离即为覆层的厚度。
适用于测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，如漆、粉末、塑料等。
2、电涡流法：
利用高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，当测头靠近导体时，在其中形成涡流。涡流的大小与测头与导电基体之间的距离有关，从而可以表征覆层的厚度。
适用于测量铜、铝、锌、锡等非铁磁金属基体上的珐琅、橡胶、油漆等覆层。
3、X射线荧光法：
通过X射线照射样品，测量反射出来的X射线的强度来推算镀层的厚度。
适用于测量极薄镀层、双镀层以及合金镀层等。
天瑞X射线测厚仪thick8000是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。全自动智能控制方式，一键式操作!采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度。
