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XRF光谱仪可对镀层的厚度与成分进行分析

发布时间:2022-07-04 阅读:179

XRF可对镀层厚度与成分进行快速、高效、无损和准确的分析。XRF光谱仪的主要部件:

1、X射线管:仪器的一部分,产生照射样品的X射线。

2、光圈:光圈是引导X射线指向样品的装置的部分。XRF仪器中的光圈将决定光斑尺寸——正确的光圈选择对度和测量效率至关重要。

3、探测器:与相关电子设备一并处理从样品中激发出的X射线:探测X射线的能量和强度。

4、对焦系统:确保每次测量中X射线管、零部件和探测器间的X射线可测量且几何光路连续一致;否则会导致结果不准确。

5、相机:帮助用户定位测量区域。某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息,或包括放大图像以定位需要测量的区域。

6、样品台:样品可放置于固定或可移动的样品台上。快速或慢速移动对于找到测试位置至关重要,随后聚焦于准确的区域进行测量。工作台移动的度是带来测试定位准确的一个因素,并进而贡献于仪器的整体准确度。

 
Think800A X荧光镀层测厚仪是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要,人性化的设计,使测试工作加轻松完成。Think800A 镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且的具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作人性化、方便。广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业。



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