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天瑞仪器镀层测厚仪由测量对象引入的误差有哪些呢?

发布时间:2019-04-30 阅读:66

    仪器在测量时难免会出现一些误差,有些误差是由于仪器本身的原因而引起的,有些则是由测量对象而引入的。那么天瑞仪器镀层测厚仪由测量对象引入的误差有哪些呢?
    由测量对象引入的测量误差主要包括以下几方面:
    1、基体金属表面粗糙度的影响;
    2、基体金属厚度的影响;
    3、覆盖层厚度的影响;
    4、基体金属磁性的影响;
    5、基体金属剩磁的影响;
    6、基体金属曲率的影响;
    7、材料的边缘效应的影响;
    8、基体金属机械加工方向的影响。
    天瑞仪器镀层测厚仪采用电磁感应法测量镀层厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电阻感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,这个距离即镀层厚度。




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