天瑞仪器镀层测厚仪由测量对象引入的误差有哪些呢?
仪器在测量时难免会出现一些误差，有些误差是由于仪器本身的原因而引起的，有些则是由测量对象而引入的。那么天瑞仪器镀层测厚仪由测量对象引入的误差有哪些呢?
由测量对象引入的测量误差主要包括以下几方面：
1、基体金属表面粗糙度的影响；
2、基体金属厚度的影响；
3、覆盖层厚度的影响；
4、基体金属磁性的影响；
5、基体金属剩磁的影响；
6、基体金属曲率的影响；
7、材料的边缘效应的影响；
8、基体金属机械加工方向的影响。
天瑞仪器镀层测厚仪采用电磁感应法测量镀层厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电阻感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，这个距离即镀层厚度。
由测量对象引入的测量误差主要包括以下几方面：
1、基体金属表面粗糙度的影响；
2、基体金属厚度的影响；
3、覆盖层厚度的影响；
4、基体金属磁性的影响；
5、基体金属剩磁的影响；
6、基体金属曲率的影响；
7、材料的边缘效应的影响；
8、基体金属机械加工方向的影响。
天瑞仪器镀层测厚仪采用电磁感应法测量镀层厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电阻感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，这个距离即镀层厚度。
