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镀层测厚仪测量过程中须注意的一些细节

发布时间:2019-04-23 阅读:68

    江苏天瑞仪器股份有限公司的镀层测厚仪,采用高度定位激光,可自动定位测试高度;定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐;鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;高分辨率探头使分析结果更加精准;良好的射线屏蔽作用;测试口高度敏感性传感器保护;可满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求;高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm。
    在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。测厚仪中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。但是镀层测厚仪测量过程中须注意下列的一些细节:
    1、基体金属厚度:每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
    2、表面粗糙度:基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。
    3、边缘效应:镀层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
    4、曲率:试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
    5、试件的变形:测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
    6、磁场:周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
    7、基体金属电性质:基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。
    8、附着物质:镀层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
    9、基体金属磁性质:磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响,为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
    10、测头压力:测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
    11、测头的取向:测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。



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