天瑞仪器镀层测厚仪的测量方法
天瑞仪器镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款仪器，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
原理：
射线在穿透一定厚度的物质时，其强度呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：
I=Tr*EXP(-UX)
Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。
对于不同的材料，衰减系数U是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言，材料密度越大，其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是zui大的，其相应的射线阻挡能力就越强，因此在核实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。
镀层测厚仪采用电磁感应法测量镀层厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电阻感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，这个距离即镀层厚度。
测量方式：
两种测量方式：
连续测量方式（CONTINUE）
单词测量方式(SINGLE);
两种工作方式：
直接方式（DIRECT)
成组方式（APPL）;
五个统计量：
平均值（MEAN）
zui大值（MAX）
zui小值（MIN）
测试次数（NO.）
标准偏差（S.DEV）。
分类方法：
根据测量原理一般有以下五种类型：
1、磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量，导磁材料一般为钢、铁、银、镍等，这种方法测量精度zui高。
2、涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量，这种方法较磁性测厚法精度低。
3、超声波测厚法：适用于多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合，但是价格较贵，精度也不高。
4、电解测厚法：这种方法与上述三种方法不同，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，精度也不高，测量起来较其他几种更为麻烦。
5、放射测厚法：这种方法测量昂贵，适用于一些特殊场合。
原理：
射线在穿透一定厚度的物质时，其强度呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：
I=Tr*EXP(-UX)
Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。
对于不同的材料，衰减系数U是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言，材料密度越大，其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是zui大的，其相应的射线阻挡能力就越强，因此在核实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。
镀层测厚仪采用电磁感应法测量镀层厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电阻感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，这个距离即镀层厚度。
测量方式：
两种测量方式：
连续测量方式（CONTINUE）
单词测量方式(SINGLE);
两种工作方式：
直接方式（DIRECT)
成组方式（APPL）;
五个统计量：
平均值（MEAN）
zui大值（MAX）
zui小值（MIN）
测试次数（NO.）
标准偏差（S.DEV）。
分类方法：
根据测量原理一般有以下五种类型：
1、磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量，导磁材料一般为钢、铁、银、镍等，这种方法测量精度zui高。
2、涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量，这种方法较磁性测厚法精度低。
3、超声波测厚法：适用于多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合，但是价格较贵，精度也不高。
4、电解测厚法：这种方法与上述三种方法不同，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，精度也不高，测量起来较其他几种更为麻烦。
5、放射测厚法：这种方法测量昂贵，适用于一些特殊场合。
