造成天瑞仪器镀层测厚仪测量结果不准确的原因有哪些？
天瑞仪器镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。近期，有客户反馈仪器在使用过程中出现测量结果不准确的情况，那么，造成天瑞仪器镀层测厚仪测量结果不准确的原因有哪些呢？以下内容详细作介绍：
一、在系统矫正时没有选择合适的基体
基体zui小平面为7mm，zui小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
二、强磁场的干扰
当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
三、镀层测厚仪发生故障：此时可以和技术人员交流或者返厂维修。天瑞仪器镀层测厚仪
四、人为因素
这种情况经常会发生在新用户的身上。镀层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
五、附着物质的影响
镀层测厚仪对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时，选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。天瑞仪器镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
一、在系统矫正时没有选择合适的基体
基体zui小平面为7mm，zui小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
二、强磁场的干扰
当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
三、镀层测厚仪发生故障：此时可以和技术人员交流或者返厂维修。天瑞仪器镀层测厚仪
四、人为因素
这种情况经常会发生在新用户的身上。镀层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
五、附着物质的影响
镀层测厚仪对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时，选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。天瑞仪器镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
