天瑞仪器镀层测厚仪的运用分析
天瑞仪器集中了的X荧光分析﹑电子术等行业术研究开发及生产术人员，依靠科学研究，总结多年的现场应用实践经验，研发生产出的X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。该仪器采用X荧光分析术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以行电镀液的成分浓度测定。
镀层的厚度决定了零件的耐腐蚀、装饰效果、防滑耐磨能力，须根据设计要求操作，保证镀层厚度。
天瑞仪器镀层测厚仪应用域：
塑料制品业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机行处理；计算机有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
1、铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是业中常见的，利用镀层测厚仪可以获得很准确的结果。
镀层的厚度决定了零件的耐腐蚀、装饰效果、防滑耐磨能力，须根据设计要求操作，保证镀层厚度。
天瑞仪器镀层测厚仪应用域：
塑料制品业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机行处理；计算机有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
1、铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是业中常见的，利用镀层测厚仪可以获得很准确的结果。
荧光厚度与已知厚度样品结果对比：
2、铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上镀镍再镀金的厚度测量也是业中常见的，见下表：
单镀层Ni/Cu稳定性测定：连续测定20次，计算其标准偏差和相对标准偏差，均能达到很好的效果。
