针对ROHS检测设计开发

测量贵金属如金、银、铂、钯等效果甚佳，

也可以测镀层厚度

 

技术指标

分析精度：0.05%

测量元素：从硫至铀，ROHS指令有害元素Cd/Pb/Cr/Hg/Br的检出限最高达1ppm

测量对象：粉末、固体、液体

计 数 率：1300-8000cps

高    压：15-50kv

管    流：50-1000Μa

测量时间：60-300秒

相对湿度：≤70%

体    积：1000 x 1000 x 300 mm

工作电压：AC110v/220v

电制冷硅针半导体探测器

加强金属元素感度分析器

 

配置

单样品腔

计算机、喷墨打印机

硅针半导体探测器

放大电路

高低压电源

X光管

无真空腔体

 

应用范围

大学、研究机关、医药、环保、食品、电机、有色金属、水泥、钢铁等领域的研究开发和品质管理。