rohs卤素测试仪的分析原理
rohs卤素测试仪是用于快速测量分析电子电机产品中如Cd、Pb、Hg等有害物质含量的仪器，采用IntelR PXA270处理器，通过扳机或开始/停止键操作，具有仪器轻便、操作简单、适用于任何场所等优点。
RoHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
rohs卤素测试仪是体积zui小、分析检测速度快、功能多、精度高的对材料进行可靠性鉴别(PMI)和确认的便携式多用途掌上型X射线荧光分析检测仪，该分析检测仪可适用于任何场所，从而确保材料质量，确保对材料无放射性， 对几种常见的合金进行分析检测时，测试时间可持续20秒钟。快速分析检测持续测试间是2至3秒。该分析仪重量轻（1.6 kg），操作简单，一键式按钮、长时间工作无疲劳感，可适用于-10°C至+50°C任何场所。该款便携式卤素卤元素分析检测仪适合检测任何产品中是否含有卤族元素的有害物质。
RoHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
rohs卤素测试仪是体积zui小、分析检测速度快、功能多、精度高的对材料进行可靠性鉴别(PMI)和确认的便携式多用途掌上型X射线荧光分析检测仪，该分析检测仪可适用于任何场所，从而确保材料质量，确保对材料无放射性， 对几种常见的合金进行分析检测时，测试时间可持续20秒钟。快速分析检测持续测试间是2至3秒。该分析仪重量轻（1.6 kg），操作简单，一键式按钮、长时间工作无疲劳感，可适用于-10°C至+50°C任何场所。该款便携式卤素卤元素分析检测仪适合检测任何产品中是否含有卤族元素的有害物质。
