使用镀层测厚仪时须特别留意的五个要求
镀层测厚仪是利用激光热辐射传到时间原理，可以测量湿润的或干燥的图层，如可溶性和水基漆，粉状漆或琺瑯质薄膜。这些薄膜可以是涂覆在金属、橡胶和陶瓷上。是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。以下是使用镀层测厚仪时须特别留意的五个要点，为了确保仪器的正常使用以及测量结果的准确性，大家有必要了解一下!
一、曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
二、基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
三、读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
四、基体金属特性
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
五、边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
一、曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
二、基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
三、读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
四、基体金属特性
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
五、边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
