使用天瑞仪器镀层测厚仪应当遵守哪些规则？
操作天瑞仪器镀层测厚仪应当遵守仪器的操作规则，否则将会带来很多不必要的麻烦，下面内容介绍天瑞仪器镀层测厚仪的操作规则。
1、边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
2、表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
3、基体金属特性：对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
4、读数次数：通常由于天瑞仪器镀层测厚仪的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
5、曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。
6、基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
1、边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
2、表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
3、基体金属特性：对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
4、读数次数：通常由于天瑞仪器镀层测厚仪的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
5、曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。
6、基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
